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熱導系統(tǒng)測試儀是一套自動測量系統(tǒng)，用來測量那些電子封裝材料和多種柔性的，堅硬的，半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導率需要測量的樣品被夾在兩個平行執(zhí)行熱傳導的平面中間，一端是被加熱的，另一端是被冷卻的，這樣可以迫使可測量的熱量通過樣品

熱阻測試儀主要用于測試二極管，三極管，線形調壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻測試及分析。

Phascl2 熱阻測試儀主要用于測試二極管，三極管，線形調壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IlGBT，IC等分立功率器件的熱阻測試及分析。

Phase12 熱阻測試儀產自美國 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標和 JEDEC 標準. Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測試的設計，制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士，并且是提出焊點可靠性,熱阻分析和熱導率理論的專家. 發(fā)表了很多關于熱阻測試于分析，熱導率及焊點可靠......