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2000V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置

簡(jiǎn)要描述:2000V離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。

  • 更新時(shí)間:2024-05-14
  • 訪  問(wèn)  量:2109
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品型號(hào):
品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
加工定制

高電圧絶縁計(jì)測(cè)+100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験裝置 HVUαシリーズ

HVUα本體

製品の特?

  • 100n秒以下の高速イベント計(jì)測(cè)機(jī)能で部分放電も検出(抵抗値データと同時(shí)計(jì)測(cè)も可能)

  • CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

  • CH個(gè)別電源搭載&CH個(gè)別制御で全CHに異なる印加電圧設(shè)定が可能

  • 機(jī)械式リレーによるスキャンが無(wú)いので連続試験中の故障やトラブル無(wú)し

  • 短絡(luò)検出回路のCH個(gè)別搭載で瞬間的なサンプル短絡(luò)にも追従

  • トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計(jì)測(cè)を?qū)g現(xiàn)(計(jì)測(cè)側(cè))

  • 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

  • 5チャンネル?yún)g位で需要に応じてシステム構(gòu)成可能

用途

?電圧デバイスの絶縁信頼性評(píng)価、パワーモジュールの連続耐圧評(píng)価、プリント基板の耐マイグレーション性能評(píng)価、その他?電圧部品の絶縁信頼性評(píng)価。

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対応OS:WindowsXp、7、8、10

 

 

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